标题（Title） 一般不超过80个字符
芯片测试座_传感器老化座_编程烧录座_测试夹具_弹片微针模组_ddr/bga/hast/memory测试_深圳谷易电子
（59 个字符）
关键词（KeyWords）一般不超过100个字符
芯片测试座,芯片老化座,编程烧录座,芯片测试夹具,弹片微针模组,hast测试,ddr老化座,bga测试座,传感器测试座,bga老化测试,memory测试座
（77 个字符）
描述（Description）一般不超过200个字符
谷易电子面向hast、ddr、bga、memory、htol老化测试，提供老化测试座以及老化板服务、为芯片设计公司定制IC分析测试座、夹球测试座、封测厂提供final test的ATE测试座以及手动IC socket、应对板对板（BTB）连接器的弹片微针模组。
（130 个字符）
